LED顯示屏環(huán)境可靠性測(cè)試

什么是可靠性？產(chǎn)品的可靠性指在規(guī)定的條件下，在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，產(chǎn)品完成規(guī)定功能的能力常見的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如下：1,鹽霧試驗(yàn)人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) iso 9227:2017 環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液) iec 60068-2-52:2017鹽霧試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程 astm b117-19鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程 astm g85-192，浸漬環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) xa 和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬 gb/t 2423.30-2013-3，低溫試驗(yàn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) a： 低溫 gb/t 2423.1-2008 環(huán)境測(cè)試 2-1 部分 試驗(yàn) a:低溫試驗(yàn)方法 iec 60068-2- 1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) a:低 溫 en 60068-2-1:2007，高溫試驗(yàn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) b:高溫 gb/t 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) b:高溫 iec 60068-2-2:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) b： 高溫 en 60068-2-2:2007
5，恒定濕熱 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) cab：恒定濕熱試驗(yàn) gb/t 2423.3-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) cab：恒定濕熱試驗(yàn) iec 60068-2-78:2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) cab：恒定濕熱 en 6
6，溫度變化環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) n：溫度變化 gb/t 2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) n：溫度變化 iec 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) n： 溫度變化 en 60068-2-14:20097 ，溫度濕度環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) z/ad：溫度/濕度 組合循環(huán)試驗(yàn) gb/t 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) z/ad：溫度/濕度 組合循環(huán)試驗(yàn) iec 60068-2-38:20098，交變濕熱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) db 交 變濕熱（12h＋12h 循環(huán)） gb/t 2423.4-2008 基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第 2 部分:試驗(yàn).試驗(yàn) db 和指南:交 變濕熱(12+12 小時(shí)循環(huán)) iec 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) db：交變溫?zé)?試驗(yàn)方法 en 60068-2-30:20059，溫度/濕度循環(huán)環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn) 第 38 節(jié):試驗(yàn) z/ad:溫度/濕 度綜合循環(huán)試驗(yàn) en 60068-2-38:200910，正弦振動(dòng)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) fc： 振動(dòng)(正弦) gb/t 2423.10-2019 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) fc： 振動(dòng)(正弦) iec 60068-2-6：2007 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第 2 部分:試驗(yàn)-第 6 節(jié):試驗(yàn) fc:振 動(dòng)(正弦波) en 60068-2-6:200811， 隨機(jī)振動(dòng)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) fh： 寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 iec 60068-2-64:2008+amd1:2019 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) fh： 寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 gb/t 2423.56-201812 ，低溫/振動(dòng)（正 弦）綜合試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) z/afc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜 合試驗(yàn) gb/t 2423.35-2019 13，低溫/振動(dòng)綜合 試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn) 第 2-53 部分:試驗(yàn)和指南 氣候(溫度/濕度)和 動(dòng)力(振動(dòng)/沖擊)聯(lián)合試驗(yàn) iec 60068-2-53:201014，高溫/振動(dòng) 綜合 試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn) 第 2-53 部分:試驗(yàn)和指南 氣候(溫度/濕度)和 動(dòng)力(振動(dòng)/沖擊)聯(lián)合試驗(yàn) iec 60068-2-53:2010
15，沖擊 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) ea 和 導(dǎo)則:沖擊 gb/t 2423.5-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) ea 和 導(dǎo)則:沖擊 iec 60068-2-27:200816 ，鹽霧試驗(yàn)人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) gb/t 10125-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) ka： 鹽霧 gb/t 2423.17-2008 iec 60068-2-11:1981環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) kb：鹽霧交變（氯化鈉溶液） gb/t 2423.18-2012 實(shí)驗(yàn)室循環(huán)腐蝕測(cè)試 sae j2334-2003(2016)銅加速鹽霧測(cè)試方法 astm b368-09（2014）17，鹽水試驗(yàn)鹽水試驗(yàn)方法 jis z 2371-2000 18，防水試驗(yàn)外殼防護(hù)等級(jí)（ip 代碼）防止水進(jìn)入 gb/t 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)（ip 代碼）防止水進(jìn)入 iec 60529:1989/amd2:2013 /cor1:2019外殼防護(hù)等級(jí)（ip 代碼）防止水進(jìn)入 en 60529:1991/a2:2013/ac:2019-02 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) r： 水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 gb/t 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) r： 水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 iec 60068-2-18:2017
19，沙塵試驗(yàn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) l： 沙塵試驗(yàn) gb/t 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) l： 沙塵試驗(yàn) iec 60068-2-68:1994 外殼防護(hù)等級(jí)（ip 代碼）接近危險(xiǎn)部件和防止固體異 物進(jìn)入 gb/t 4208-2017外殼防護(hù)等級(jí)（ip 代碼）接近危險(xiǎn)部件和防止固體異 物進(jìn)入 iec 60529:1989/amd2:2013 /cor1:2019 由外殼提供的防護(hù)等級(jí)(ip 代碼) en 60529:1991/a2:2013/ac:2019-0220，低氣壓電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) m:低 氣壓 gb/t 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) m:低 氣壓 iec 60068-2-13:1983 基本環(huán)境試驗(yàn)程序 第 2 部分:試驗(yàn) 試驗(yàn) xa 和導(dǎo)則:在清 洗劑中浸漬 iec 60068-2-45:1980/amd1:199321，自由跌落環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) ec:粗率操作造成的 沖擊（主要用于設(shè)備型樣品） gb/t2423.7-2018環(huán)境試驗(yàn) - 第 2-31 部分：試驗(yàn) - 試驗(yàn) ec ：粗暴裝卸沖 擊，主要用于設(shè)備型樣品 iec 6